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[嵌入式]TI AFE5801芯片调试记录 |
在做项目的过程中,用到了5801芯片实现模拟信号转数字信号。并且5801芯片调试起来比较容易上手,内部也有对应的测试模式,方便验证。 ? 主要架构是通过AFE5801将接收到的模拟信号转换成数字信号,再经过差分线由FPGA进行数据解析。得到相应的8路12bit的数据。 在FPGA进行ADC采集的过程中,前后四个通道数据不一致。这是芯片自身原因导致的。因为时序问题导致的现象表现为在电平变化时,本来是1(或0)的数值,由于不满足建立时间和保持时间的关系,导致数值判断为0(或1)。 如图,采样时钟绿线采样点不满足时序要求,固导致采样偏差。所以做完时钟偏移后进行采样,数据正常。 我们看下图,FPGA对5801数据进行采集,前4个通道和后4个通道,除了差值(通道0/1/2/3-通道4/5/6/7)有规律外,数据之间没有时序的联系。 ? ? 目前,硬件状况: frm_clk和8对lvds是由5801发出的,而采样时钟data_clk是前端5338产生的。 frm _clk和data_clk是同相位的。 5801所有模式测试情况说明: 通过软件配置12bit拼接模式,进行5801测试模式验证,当8通道都是定值时,所有通道是一样的。当配置ramp、toggle这种有趋势变化的模式时,前4个通道和后4个通道数据就不一致了。 疑问点: 当配置ramp、toggle这种有趋势变化的模式时,波形趋势类似是否说明通道正常?(都是斜波或者三角波,且都是固定范围内循环的数) 如果还要看数据同一个时钟采样是否一致,那在排除了时序问题后,那可能就是5801分两个4通道出数据的时候没有进行同步。 如果5801不需要做同步操作,那在配置没问题的情况下,能直接判断5801芯片异常吗 |
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