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[嵌入式]LDO损伤原因之内部二极管过流损伤

1、现象描述
????????5V转3.3V电源LDO芯片的输出电压异常,输出电压分布3.5~5V之间。
2、原因排查
????????LDO不良来自生产治具烧录和测试PCBA环节,治具内部的MCU烧录器直接为MCU电源引脚提供5V电源(背景:本款MCU实际工作电压为3.3V,厂家推荐烧录电压为5V,采用3.3V烧录良率偏低)。

? ? ? ?查看LDO内部,开关管有并联反向二极管,理论上不会因输出端接高于3.3V的电源而损伤,确认板子在测试治具的状态,LDO电源输入端连接了负载,LDO输出端接5V电源时,从LDO反向流过的电流约250MA,由于LDO输出电压高于指定的3.3V,采样电阻得到的反馈电压过高,关闭了内部的开关管,此时电流均从内部的反向二极管通过,当流经电流大于二极管承受电流值后,二极管出现损伤。

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?3、整改方法和验证

? ? ? ?在LDO外部并一个低压差大电流二极管,导通压差务必小于LDO内部二极管,经测定所使用LDO自身二极管压降为0.7V,建议选择锗管,其导致压降低于0.3V,如图中D1。

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?4、总结
? ? ?当对LDO输出端施加高于LDO额定输出电压时,如果反向电流过大,容易导致LDO内部开关管的反向二极管过流损伤。

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加:2022-01-29 23:14:49  更:2022-01-29 23:16:32 
 
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