STM32CUBEIDE.8----USART收发配置
概述
本章STM32CUBEMX配置STM32F103双ADC轮询模式扫描多个通道,通过串口进行打印。 最近在弄ST和GD的课程,需要样片的可以加群申请:615061293。
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生成例程
使用STM32CUBEMX生成例程,这里使用NUCLEO-F103RB开发板 查看原理图,PA2和PA3设置为开发板的串口。 配置串口。
开启中断。 查看原理图,Arduino的接口A0-A5都是AD口。 ADC通道配置
ADC1 | IN0(PA0) | IN1(PA1) | IN4(PA4) |
---|
ADC2 | IN8(PB0) | IN10(PC0) | IN11(PC1) |
ADC1配置。
- ADCs_Common_Settings:
- Mode:Independent mod 独立 ADC 模式,当使用一个 ADC 时是独立模式,使用两个 ADC 时是双模式,在双模式下还有很多细分模式可选,具体配置 ADC_CR1:DUALMOD 位。
- ADC_Settings:
- Data Alignment:
- Right alignment 转换结果数据右对齐,一般我们选择右对齐模式。
- Left alignment 转换结果数据左对齐。
- Scan Conversion Mode:
- Disabled 禁止扫描模式。如果是单通道 AD 转换使用 DISABLE。
- Enabled 开启扫描模式。如果是多通道 AD 转换使用 ENABLE。
- Continuous Conversion Mode:
- Disabled 单次转换。转换一次后停止需要手动控制才重新启动转换。
- Enabled 自动连续转换。
- DiscontinuousConvMode:
- Disabled 禁止间断模式。这个在需要考虑功耗问题的产品中很有必要,也就是在某个事件触发下,开启转换。
- Enabled 开启间断模式。
- ADC_Regular_ConversionMode:
- Enable Regular Conversions 是否使能规则转换。
- Number Of Conversion ADC转换通道数目,有几个写几个就行。
- External Trigger Conversion Source 外部触发选择。这个有多个选择,一般采用软件触发方式。
- Rank:
- Channel ADC转换通道
- Sampling Time 采样周期选择,采样周期越短,ADC 转换数据输出周期就越短但数据精度也越低,采样周期越长,ADC 转换数据输出周期就越长同时数据精度越高。
- ADC_Injected_ConversionMode:
- Enable Injected Conversions 是否使能注入转换。注入通道只有在规则通道存在时才会出现。
- WatchDog:
- Enable Analog WatchDog Mode 是否使能模拟看门狗中断。当被 ADC 转换的模拟电压低于低阈值或者高于高阈值时,就会产生中断。
ADC2配置。 生成独立的文件。
STM32CUBEIDE配置
若需要打印浮点型,需要勾选下面的选项。
串口重定向
在main.c中,添加头文件,若不添加会出现 identifier “FILE” is undefined报错。
#include "stdio.h"
函数声明和串口重定向:
#ifdef __GNUC__
#define PUTCHAR_PROTOTYPE int __io_putchar(int ch)
#else
#define PUTCHAR_PROTOTYPE int fputc(int ch, FILE *f)
#endif
PUTCHAR_PROTOTYPE
{
HAL_UART_Transmit(&huart2 , (uint8_t *)&ch, 1, 0xFFFF);
return ch;
}
代码
定义变量,存放采集到的数据。
uint8_t i;
uint16_t adc1Buf[3];
uint16_t adc2Buf[3];
ADC校准。
HAL_ADCEx_Calibration_Start(&hadc1);
HAL_ADCEx_Calibration_Start(&hadc2);
printf("ADC Demo!\r\n");
采集数据。
while (1)
{
i=0;
while(i<3)
{
HAL_ADC_Start(&hadc1);
HAL_ADC_PollForConversion(&hadc1,0xffff);
if(HAL_IS_BIT_SET(HAL_ADC_GetState(&hadc1),HAL_ADC_STATE_REG_EOC))
{
adc1Buf[i]=HAL_ADC_GetValue(&hadc1);
i++;
}
}
printf("\nadc1_IN0(PA0)=%4.0d,voltage=%1.4f",adc1Buf[0],adc1Buf[0]*3.3f/4095);
printf("\nadc1_IN1(PA1)=%4.0d,voltage=%1.4f",adc1Buf[1],adc1Buf[1]*3.3f/4095);
printf("\nadc1_IN4(PA4)=%4.0d,voltage=%1.4f",adc1Buf[2],adc1Buf[2]*3.3f/4095);
HAL_ADC_Stop(&hadc1);
HAL_Delay(500);
i=0;
while(i<3)
{
HAL_ADC_Start(&hadc2);
HAL_ADC_PollForConversion(&hadc2,0xffff);
if(HAL_IS_BIT_SET(HAL_ADC_GetState(&hadc2),HAL_ADC_STATE_REG_EOC))
{
adc2Buf[i]=HAL_ADC_GetValue(&hadc2);
i++;
}
}
printf("\nadc2_IN8(PB0)=%4.0d,voltage=%1.4f",adc2Buf[0],adc2Buf[0]*3.3f/4095);
printf("\nadc2_IN10(PC0)=%4.0d,voltage=%1.4f",adc2Buf[1],adc2Buf[1]*3.3f/4095);
printf("\nadc2_IN11(PC1)=%4.0d,voltage=%1.4f",adc2Buf[2],adc2Buf[2]*3.3f/4095);
HAL_ADC_Stop(&hadc2);
HAL_Delay(500);
}
测试结果
输入固定电压进行测试。
ADC1 | IN0(PA0) | IN1(PA1) | IN4(PA4) |
---|
输入电压 | VCC | 2.0V | GND | ADC2 | IN8(PB0) | IN10(PC0) | IN11(PC1) | 输入电压 | VCC | GND | 2.0V |
测试结果如下。
最后
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